PVA TePla SAM 300 TWIN

SAM 300 TWIN – это высокопроизводительный инструмент для неразрушающего анализа и контроля качества акустическим методом. В микроскопе используются новый высокоскоростной сканер линейного передвижения, новый радиочастотный блок, работающий до частот 400 МГц, и трансдьюсеры. Управление осуществляется с помощью удобного графического интерфейса пользователя.

Новая концепция главный/ведомый позволяет двум трансдьюсерам одновременно принимать сигнал и создавать два акустических изображения.

Инструмент разработан в соответствии с промышленными стандартами на плафторме, которая использует последние технологические и производственные достижения. SAM 300 TWIN может применяться для контроля и исследований пластин кремния с диаметром до 300 мм. Инструмент работает на частотах до 500 МГц и поставляется с трансдьюсерами от 3 до 400 МГц.

Пределы сканирования x;y: 320 мм x 320 мм с шагом 200 µм; 200µм.

Каждый трансдьюсер имеет собственный автофокус